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                產品中心您的位置:網站首頁 > 產品中心 > XRF熒光耗材 > 斯派克/SPECTRO邁拉膜 > XRF樣品膜Sample FilmXRF熒光儀/斯派克/SPECTRO邁拉膜

                XRF熒光儀/斯派克/SPECTRO邁拉膜

                更新時間:2022-05-18

                訪問量:292

                廠商性質:代理商

                生產地址:進口

                簡要描述:
                XRF熒光儀/斯派克/SPECTRO邁拉膜/XRF麥拉膜樣品膜有連續卷裝、預切膜和快捷卡扣膜等不同包裝形式,同時還提供不同薄膜化學成分和厚度可供選擇。膜中最di的雜質水平保證了每天測試結果的重現性。在選擇膜時類型時,耐腐蝕性、透過率和雜質含量都是針對某一類測試樣品要綜合考慮的,以得到最準確的測定結果。
                品牌自營品牌行業專用類型能源化工
                價格區間面議儀器種類臺式/落地式
                應用領域化工,石油,地礦,能源

                XRF熒光儀/斯派克/SPECTRO邁拉膜

                 

                XRF膜.png

                 

                XRF熒光儀/斯派克/SPECTRO邁拉膜

                品名:XRF樣品膜Sample Film

                目錄編號CAT. NO:416

                產品信息:Prolene膜,卷軸,厚度4.0 μm,寬7.6cm x 長91.4m,1卷/盒

                品牌:美國Chemplex Industries.Inc.(*)

                貨期:現貨

                起訂量:1盒以上。

                 

                斯派克/SPECTRO邁拉膜產品詳細信息:

                Pre-Perforated Thin-Film Sampel Supports

                PROLENE? FILM

                CAT. NO:416

                Gauge:0.00016”,4.0 μm;0.16mil,40,640A

                Typical Impurities,PPM:Ca, P, Fe, Zn, Cu, Zr, Ti, Al

                Chemplex? INDUSTRIES,INC.

                ROLL:3” x 300’ (7.6cm x 91.4m); Lot No:082176。

                品名:XRF樣品杯Sample Cups

                型號:所有型號CAT. NO(索取產品目錄)

                 

                品牌:美國Chemplex(*)

                 

                貨期:現貨

                 

                起訂量:1包以上(100個/包)。

                 

                一、美國Chemplex XRF樣品杯:

                 

                美國Chemplex Industries有限公司專業從事樣品前處理設備、耗材研發和生產的公司,是X射線光譜儀(XRF)配件耗材領域的廠商。

                 

                Chemplex XRF樣品杯用于RoHS、WEEE專業測試儀器盛放小顆粒固體,粉末,液體,適用于各種品牌的X射線熒光光譜儀。Chemplex的許多XRF樣本杯被列為新穎獨特的設計和應用,并被美國商標局授予知識產權地位。

                 

                二、Chemplex 樣品杯特點:

                 

                Chemplex樣本杯由專為該應用配制的高密度聚乙烯注模制成。該材料的特點有:

                 

                1、符合RoHS指令;

                 

                2、不含有可能影響X射線數據的“白化”因子;

                 

                3、光滑,能夠促進薄膜樣本支撐窗口的光滑和穩固附著;

                 

                4、耐熱和抗輻射的物理性能特點;

                 

                5、能抵抗與無法確定的樣本材料物質接觸時產生的化學污染;

                 

                6、低微量元素雜質。

                 

                三、適用于各種品牌X熒光光譜儀XRF:

                 

                日本島津shimadzu、牛津儀器Oxford、斯派克Spectro、布魯克Bruker、日本精工SII、日本電子JEOL、日本理學Rigaku、日本堀場Horiba、熱電Thermo、帕納科Panalytical、尼通Niton、伊諾斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。

                 

                 

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